1、厚度范圍:0.080 mm~635 mm(0.003 in.~25.0 in.)視材料、探頭、表面條件、溫度和所選配置而定(要測量zui全的范圍需要使用單晶選項)
2、自動回波到回波(可選):在兩個連續(xù)底面回波之間的時間間隔,不計漆層或涂層的厚度。
3、穿透涂層測量 (可選):利用單個底面回波,測量金屬的實際厚度和涂層厚度(使用D7906-SM和D7906探 頭)
4、探頭頻率范圍
標準:2.25 MHz~30 MHz(-3 dB)
高穿透(單晶選項):0.50 MHz~30 MHz(-3 dB)
5、單晶探頭測量模式(可選)
模式1:激勵脈沖與個底面回波之間的時間間隔。
模式2:延遲塊回波與個底面回波之間的時間間隔(使用延遲塊或水浸式探頭)
模式3:在激勵脈沖之后,位于個表面回波后的相鄰底面回波之間的時間間隔(使用延遲塊探頭或水浸式探頭)。
6、雙晶探頭測量模式:從激勵脈沖后的延遲到個回波之間的時間間隔。
7、標準分辨率:0.01毫米(0.001英寸)
8、單晶選項:0.001毫米(0.0001英寸)
9、分辨率(可選擇):低分辨率:0.1毫米(0.01英寸)
10、材料聲速范圍 :0.508 mm/μs~18.699 mm/μs(0.020 in./μs~0.7362 in./μs)
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